山東閱芯電子科技有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HTXB

革命性的創(chuàng)新理念,重新定義環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備

HTXB 品牌系列產(chǎn)品是一款多功能的功率半導(dǎo)體器件環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備。主要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗(yàn),比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 試驗(yàn)。




HTXB 品牌系列產(chǎn)品采用全新的革命性創(chuàng)新設(shè)計(jì)理念,重新定義環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備。允許在一臺(tái)設(shè)備上完成 HTGB/HTRB 兩種不同的試驗(yàn),極大地提高了設(shè)備綜合利用率,并減少了采購(gòu)成本,解決了實(shí)驗(yàn)室空間緊張的問題,降低并優(yōu)化了老化試驗(yàn)的人力、電力支出綜合成本。電源電壓范圍最大為 0~6500V,可以根據(jù)客戶要求選擇不同電壓等級(jí)電源,滿足了不同產(chǎn)品同時(shí)試驗(yàn)的需求。試驗(yàn)溫度范圍最大可達(dá)常溫~260℃,滿足了寬禁帶半導(dǎo)體器件老化試驗(yàn)對(duì)于更高溫度測(cè)試需求。最多支持 1280 個(gè)分立器件或72只半橋模塊(上下橋切換),并支持不同封裝的分立器件和模塊組合試驗(yàn),最大化地利用資源滿足研發(fā)和大批量生產(chǎn)要求。

HTXB 品牌系列產(chǎn)品還支持用戶通過 ALITA SMART LAB 等軟件在移動(dòng)端/PC 端進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和控制,用戶可以隨時(shí)隨地的控制或者了解試驗(yàn)進(jìn)程。設(shè)備發(fā)生異常狀態(tài)會(huì)自動(dòng)報(bào)警,極大地緩解了值班人員工作壓力。

HTXB-多功能智能環(huán)境老化測(cè)試系統(tǒng)

編號(hào) : A004
典型測(cè)試結(jié)果
PRIME-REL
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